Nano Çiplerde Minyatürleşme Sorunu
Her geçen gün biraz daha küçültülen transistörler, hem hızlanıyor hem de tek bir çip üzerine daha fazla sayıda sıkıştırılabiliyor. Ancak transistörleri küçültmenin bir de olumsuz yönü var. Minik transistörleri ve bağlantılarını üretirken, üretim aşamasındaki gelişigüzel dalgalanmalara bağlı olarak boyutlarını ve bileşimini kontrol etmek olanaksız hale geliyor. Eskiden bu sorun yaratmıyordu çünkü boyut ve içerik farklılıkları ürünün toplam boyutuna göre göz ardı edilebilecek kadar küçüktü.
Şimdi 65 nm. çapına inen bu transistörler ve diğer çip parçalarında, boyut ve içerik farklılıkları parçanın toplam boyutunun %20’sini bulabiliyor. Bunun sonucunda da çipler istenilen başarımı vermiyor veya göstermiyor.
Bu soruna çözüm olarak MIT’den Elektronik Mühendisi Duane Boning boyut farklılıklarına aşırı duyarlı bir test çipi geliştirildi ve daha sonra bunun çok sayıda kopyasını çıkarttı. Çipin elektriksel başarımını ölçerek istenilen işlevsellik ile gerçek işlevselliğini karşılaştırdı. Böylece çipin çalışmamasına yol açan değişiklikler üzerine odaklanılması ve üretim yöntemlerini geliştirerek bu hataların yok edilmesi sağlanmış oldu.
Kaynak: Cumhuriyet-Bilim Teknoloji
Benzer Yazılar
Yorumlar
Yorum Yapın
-
Fotoğraflar
Ne Okuyorum?
